S. Muto, S. Takeda, M. Hirata and T. Tanabe: "Structure of Hydrogen-Induced Planar Defect in Silicon by High-Resolution Electron Microscopy" J. Appl. Phys. 70. 3505-3508 (1991)
S. Muto, S. Takeda, M. Hirata and T. Tanabe: "Structure of Hydrogen-Induced Planar Defect in Silicon by High-Resolution Electron Microscopy" J. Appl. Phys. 70. 3505-3508 (1991)
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S. Muto、S. Takeda、M. Hirata 和 T. Tanabe：“通过高分辨率电子显微镜观察硅中氢致平面缺陷的结构” J. Appl。
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