Electrical Conductivity Across Line Defects on the Si(111)-7×7 Surface
Electrical Conductivity Across Line Defects on the Si(111)-7×7 Surface
复制标题
Si(111)-7×7 表面上线缺陷的电导率
DOI：
10.1380/vss.63.431
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川 幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
浜田 雅之;長谷川 幸雄
