Scanning tunneling potentiometry on FIB-deposited PtC pattern by using multi-probe STM
Scanning tunneling potentiometry on FIB-deposited PtC pattern by using multi-probe STM
复制标题
使用多探针 STM 对 FIB 沉积 PtC 图案进行扫描隧道电位测量
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
O. Takeuchi and H. Shigekawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Bamba;H. Mogi;S. Yoshida;O. Takeuchi and H. Shigekawa
