M.Akazawa: "A UHV contactless capacitance-voltage characterization method applicable to semiconductor layers grown on insulating substrates"Physica Status Solidi A. 195. 248-254 (2003)
M.Akazawa: "A UHV contactless capacitance-voltage characterization method applicable to semiconductor layers grown on insulating substrates"Physica Status Solidi A. 195. 248-254 (2003)
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M.Akazawa：“适用于在绝缘基板上生长的半导体层的 UHV 非接触式电容电压表征方法”Physica Status Solidi A. 195. 248-254 (2003)
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