ダブルゲート型およびプレーナー型MOSFETにおける構造バラつきの影響の比較検討
ダブルゲート型およびプレーナー型MOSFETにおける構造バラつきの影響の比較検討
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双栅型和平面型 MOSFET 结构变化影响的比较研究
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岩井 洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林勇介;角嶋邦之;Ahmet P.;Rao V.R.;筒井一生;岩井 洋
