Rapid method using deep learning with multi-focus microphotographs to measure submicrometric structures
Rapid method using deep learning with multi-focus microphotographs to measure submicrometric structures
复制标题
使用深度学习和多焦点显微照片测量亚微米结构的快速方法
DOI：
--
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and H. Kawaguchi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
R. Narukage;G. Okada;and H. Kawaguchi
