Transmission electron microscopy of Mg2Si thermoelectric leg subjected to high-temperature oxidization tests under ambient atmosphere
Transmission electron microscopy of Mg2Si thermoelectric leg subjected to high-temperature oxidization tests under ambient atmosphere
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Mg2Si热电腿在常压下进行高温氧化测试的透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruhiko Udono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroharu Sugawara;Shin'ichi Nakamura;Youhiko Mito;Atsushi Ogino;Haruhiko Udono
