S.Shingubara, H.Kaneko, and M.Saitoh: "Electromigration-Induced Abrupt Changes in Electrical Resistance Associated with Void Dynamics in Aluminum Interconnections" J.Appl.Phys.vol.69. 207-212 (1991)
S.Shingubara, H.Kaneko, and M.Saitoh: "Electromigration-Induced Abrupt Changes in Electrical Resistance Associated with Void Dynamics in Aluminum Interconnections" J.Appl.Phys.vol.69. 207-212 (1991)
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S.Shingubara、H.Kaneko 和 M.Saitoh：“与铝互连中的空洞动力学相关的电迁移引起的电阻突变”J.Appl.Phys.vol.69。
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