Observation of amorphous recording marks using reflection-mode near-field scanning optical microscope supported by optical interference method
Observation of amorphous recording marks using reflection-mode near-field scanning optical microscope supported by optical interference method
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利用光学干涉法支持的反射式近场扫描光学显微镜观察非晶记录标记
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sakai;M.
