Quick Response of All Solid Electrochromic Device
Quick Response of All Solid Electrochromic Device
复制标题
全固体电致变色器件的快速响应
DOI：
10.1143/apex.2.105502
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发表时间：
2009
影响因子：
2.3
通讯作者：
Y. Moritomo
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Shibata;Y. Moritomo
我们将两种不同的氰化物薄膜连接在一起，制作出全固态的电致变色器件。我们发现tR的大小随电压的增加而减小|V|作为tR| V|-1，并且随着器件厚度dD的减小，tR =（dD-2dEDL）2，其中dEDL（=50-100 nm）是双电层（EDL）的有效厚度。这些观测结果可以很好地理解为从EDL区域泄漏的电压，可能起源于V的不完美屏蔽。
We fabricated all solid electrochromic devices by connecting two kinds of cyanide thin films. We found that the magnitude of tR decreases with increase in the electric pressure |V| as tR∝|V|-1 and with decrease in the device thickness dD as tR∝(dD-2dEDL)2, where dEDL (=50–100 nm) is the effective thickness of the electric double layer (EDL). These observations are well understood in terms of the leaked electric pressure from the EDL region, perhaps originated in the imperfect screening of V.
价态控制的Ni-Fe氰化物的电子和磁性
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
J. Phys. Soc. Jpn 77
影响因子：
--
作者：
T. Shibata;F. Nakata;H. Kamioka and Y. Moritomo
通讯作者：
H. Kamioka and Y. Moritomo