Effects of Phase-Locked-Loop Circuit on a Self-Commutated BTB System under Line Faults
Effects of Phase-Locked-Loop Circuit on a Self-Commutated BTB System under Line Faults
复制标题
线路故障下锁相环电路对自换向 BTB 系统的影响
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
赤木 泰文
中科院分区：
文献类型：
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作者：
萩原 誠;ファム フン ヴェト;赤木 泰文
