H.Abe,K.Kataoka,K.Ueno and A.Koma: "“Scanning Tunneling Microscope Observation of the Metal‐Adsorbed Layered Semiconductor Surfaces"" Japanese Journal of Applied Physics. 34. 3342-3345 (1995)
H.Abe,K.Kataoka,K.Ueno and A.Koma: "“Scanning Tunneling Microscope Observation of the Metal‐Adsorbed Layered Semiconductor Surfaces"" Japanese Journal of Applied Physics. 34. 3342-3345 (1995)
复制标题
H.Abe、K.Kataoka、K.Ueno 和 A.Koma：“金属吸附层状半导体表面的扫描隧道显微镜观察”，日本应用物理学杂志 34. 3342-3345 (1995)。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
