プロトン照射した鉄カルコゲナイド薄膜の臨界電流特性

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质子辐照铁硫属化物薄膜的临界电流特性

DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
尾崎 壽紀,Qiang Li
尾崎 壽紀,Qiang Li
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Zhao Z;Tan SH;Machiyama H;Kawauchi K;Araki K;Hirata H;Sawada Y;尾崎 壽紀,Qiang Li

文献摘要

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