M.Higo,K.Nishino,S.Kamata: "Characterization of evaporated silicon film by inelastic electron tunneling spectroscopy." Applied Surface Science. (1991)
M.Higo,K.Nishino,S.Kamata: "Characterization of evaporated silicon film by inelastic electron tunneling spectroscopy." Applied Surface Science. (1991)
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M.Higo、K.Nishino、S.Kamata：“通过非弹性电子隧道光谱表征蒸发硅膜。”
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影响因子：
4.6
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影响因子：
9.8
作者：
Hermassi, M.;Granados, M.;Cortina, J. L.
通讯作者：
Cortina, J. L.
采矿活动影响的环境和社会经济评估——以罗马尼亚西喀尔巴阡山脉塞尔特伊河流域为例
影响因子：
5.8
作者：
J. Zobrist;M. Sima;D. Dogaru;M. Șenilă;Hong Yang;C. Popescu;C. Roman;Abraham Bela;Linda Frei;B. Dold;D. Bălteanu
通讯作者：
D. Bălteanu
DOI：
10.1002/asi.v57:3
发表时间：
2006-02
影响因子：
3.5
作者：
Chaomei Chen
通讯作者：
Chaomei Chen
关于论文标题。
影响因子：
56.9
作者：
H. H. Wilder
通讯作者：
H. H. Wilder