High spatical resolution electronic structure analysis by scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy
High spatical resolution electronic structure analysis by scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy
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通过扫描透射电子显微镜和电子能量损失谱进行高空间分辨率电子结构分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
治田充貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ono K.;Miyamoto M.;Kurata H.;Haruta M.;Yatomi A.;治田充貴 倉田博基;治田充貴;治田充貴;岩清水千咲;岩清水千咲;治田充貴
