Surface X-ray diffraction study of the metal-insulator transition on the Si(553)-Au surface
Surface X-ray diffraction study of the metal-insulator transition on the Si(553)-Au surface
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Si(553)-Au表面金属-绝缘体转变的表面X射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W. Voegeli;et al.
AU/SI(5 5 3)双排量子线结构
影响因子：
4.5
作者：
S. Ghose;I. Robinson;P. Bennett;F. Himpsel
通讯作者：
F. Himpsel