Real-time in-situ X-ray beam diagnostics
Real-time in-situ X-ray beam diagnostics
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实时原位 X 射线束诊断
DOI：
10.1088/1742-6596/425/4/042002
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
R. V. Silfhout
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Kachatkou;Nicholas R. Kyele;P. Scott;R. V. Silfhout
我们报告了一种新的诊断仪器，用于现场成像和实时测量x射线束参数。该仪器是基于一个强大而简单的针孔相机的想法，该相机从以锐角放置在x射线束中的低z材料薄片中收集弱散射辐射。我们演示了如何通过使用适当的探测器记录散射辐射，可以实时执行高分辨率光束表征。我们提出了一个描述成像过程和光束位置测量的数学模型。讨论了器件分辨率极限的理论评价及其对各参数的依赖关系。实验结果证明了该仪器在光束跟踪和成像应用方面的能力。
We report on a novel diagnostics instrument for in-situ imaging and measurements of X-ray beam parameters in real-time. The instrument is based on the robust and simple idea of a pinhole camera that collects the weakly scattered radiation from a thin sheet of a low-Z material placed in the X-ray beam at an acute angle. We demonstrate how by recording the scattered radiation with an appropriate detector, high-resolution beam characterisation can be performed in real-time. We present a mathematical model that describes the imaging process and beam position measurements. The theoretical evaluation of the resolution limit of our device and its dependence on various parameters are also discussed. Reported experimental results demonstrate the instrument's capabilities in beam tracking and imaging applications.
使用高分辨率成像器的实时光子束定位方法和使用可重构系统的并行处理
影响因子：
1.3
作者：
Scott P
通讯作者：
Scott P
高分辨率透明 X 射线束定位和成像。
影响因子：
3.6
作者：
Van Silfhout R
通讯作者：
Van Silfhout R