Characterization of material parameters of La0.33Pr0.34Ca0.33MnO3 thin film by terahertz time-domain spectroscopy
Characterization of material parameters of La0.33Pr0.34Ca0.33MnO3 thin film by terahertz time-domain spectroscopy
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太赫兹时域光谱表征La0.33Pr0.34Ca0.33MnO3薄膜材料参数
DOI：
10.7567/jjap.55.031101
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发表时间：
2016-01
影响因子：
1.5
通讯作者：
Xu, Wen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pi, Li;Mei, Hongying;Zhang, Peng;Xu, Wen
系统研究了LaAlO 3衬底上的强关联La0.33Pr0.34Ca0.33MnO3（LPCMO）薄膜的太赫兹（THz）光电导特性.在15 ~ 105 K的温度范围内，利用THz时域光谱进行了测量。在金属相区的样品的频率依赖的光学电导率表现出非Drude样响应。我们发现，低于105 K，无论是真实的和虚部的复电导率可以再现的Drude-Smith模型。通过拟合实验数据，可以确定LPCMO薄膜的重要样品和材料参数（如速度的持续性、载流子密度与有效质量的比值、电子散射时间等）。所得结果与四探针电输运测量结果一致。
We present a systemic study of the terahertz (THz) optical conductivity of a strongly correlated La0.33Pr0.34Ca0.33MnO3 (LPCMO) thin film on a LaAlO3 substrate. The measurements are carried out by THz time-domain spectroscopy in the temperature regime from 15 to 105 K. The frequency-dependent optical conductivity in the metallic phase region of the samples exhibits a non-Drude-like response. We find that below 105 K, both the real and imaginary parts of the complex conductivity can be reproduced by the Drude–Smith model. The important sample and material parameters of the LPCMO thin film (such as the persistence of velocity, the ratio of carrier density to effective mass, and electronic scattering time) can be determined by fitting experimental data. The results obtained agree with those obtained from four-probe electrical transport measurements.
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