Hydrogen-induced slip localization around a quasi-brittle fatigue crack observed by high-voltage electron microscopy
Hydrogen-induced slip localization around a quasi-brittle fatigue crack observed by high-voltage electron microscopy
复制标题
高压电子显微镜观察准脆性疲劳裂纹周围氢致滑移定位
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Noguchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Takahashi;Masaki Tanaka;K. Higashida;H. Noguchi
