R.Ohmi: "Influence of Silicon Wafer Surface Orientation on Very Thin Oxide Quality" Applied Physics Letters. 62. 405-407 (1993)
R.Ohmi: "Influence of Silicon Wafer Surface Orientation on Very Thin Oxide Quality" Applied Physics Letters. 62. 405-407 (1993)
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R.Ohmi：“硅晶片表面取向对极薄氧化物质量的影响”应用物理快报。
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