K.Shiojima and T.Okumura: "Mapping Evaluation of Damage Effect on Electrical Properties of GaAs Schottky Contacts" J.Crystal Growth. 57. (1990)
K.Shiojima and T.Okumura: "Mapping Evaluation of Damage Effect on Electrical Properties of GaAs Schottky Contacts" J.Crystal Growth. 57. (1990)
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K.Shiojima 和 T.Okumura：“GaAs 肖特基接触电性能损伤效应的映射评估”J.Crystal Growth。
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