Y.Kamiya, T.Miki and Y.Iwadare: "Randomness Properties of Partial gamma-beta Planes as LSI Test Inputs and Their Implementations" Proceedings of the 11th International Symposium on Applied Algebra, Algebraic Algorithms and Error-Correcting Codes. 297-305
Y.Kamiya, T.Miki and Y.Iwadare: "Randomness Properties of Partial gamma-beta Planes as LSI Test Inputs and Their Implementations" Proceedings of the 11th International Symposium on Applied Algebra, Algebraic Algorithms and Error-Correcting Codes. 297-305
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Y.Kamiya、T.Miki 和 Y.Iwadare：“作为 LSI 测试输入的部分 gamma-beta 平面的随机性及其实现”第 11 届应用代数、代数算法和纠错码国际研讨会论文集。
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