Evaluation of the In concentration of an InxGa1-xSb alloy layer in cross-sectional HRTEM images of III-V semiconductor superlattices
Evaluation of the In concentration of an InxGa1-xSb alloy layer in cross-sectional HRTEM images of III-V semiconductor superlattices
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III-V 族半导体超晶格横截面 HRTEM 图像中 InxGa1-xSb 合金层 In 浓度的评估
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Zhao, Liancheng
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Quan, Maohua;Guo, Fengyun;Li, Meicheng;Zhao, Liancheng
