Measurement of Absolute Efficiency for Micro Channel Plates by Using Pure-Calibrated EUV Beam
Measurement of Absolute Efficiency for Micro Channel Plates by Using Pure-Calibrated EUV Beam
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使用纯校准 EUV 光束测量微通道板的绝对效率
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
吉岡 和夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshioka;K.;G. Murakami;I. Yoshikawa;吉岡 和夫
