An enhanced modulated waveform measurement system for characterization of microwave devices under complex modulated excitations
An enhanced modulated waveform measurement system for characterization of microwave devices under complex modulated excitations
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用于表征复杂调制激励下微波器件的增强型调制波形测量系统
DOI：
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发表时间：
2012
影响因子：
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通讯作者：
Akmal M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akmal M.
