A transmission electron microscopy study of microstructure evolution with increasing anneal temperature in Ti/Al ohmic contacts to n-GaN
A transmission electron microscopy study of microstructure evolution with increasing anneal temperature in Ti/Al ohmic contacts to n-GaN
复制标题
透射电子显微镜研究 Ti/Al 与 n-GaN 欧姆接触随退火温度升高的微观结构演变
DOI：
10.1007/s11664-001-0030-2
复制
发表时间：
2001
影响因子：
2.1
通讯作者：
R. Davies
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Bright;D. Tricker;C. Humphreys;R. Davies
