Sunarno, T.Iida, J.Datemichi, H.Miyazaki and A.Takahashi: ""Soft-error on Memory ICs Induced by D-T Neutrons"" J.Nucl.Sci.Technol.30 [2]. 107-115 (1993)
Sunarno, T.Iida, J.Datemichi, H.Miyazaki and A.Takahashi: ""Soft-error on Memory ICs Induced by D-T Neutrons"" J.Nucl.Sci.Technol.30 [2]. 107-115 (1993)
复制标题
Sunarno、T.Iida、J.Datemichi、H.Miyazaki 和 A.Takahashi：““D-T 中子引起的存储器 IC 上的软错误””J.Nucl.Sci.Technol.30 [2]。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
