Über die Kontraste von Atomen im Elektronenmikroskop
Über die Kontraste von Atomen im Elektronenmikroskop
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电子微机中的原子控制
DOI:
10.1515/zna-1947-11-1204
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发表时间:
1947
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
H. Boersch
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H. Boersch
Abstract Inhalt: 1. Streuabsorption: a) elastische Streuung, b) unelastische Streuung, c) experimentelle Voraussetzungen, d) Kontrast von Einzelatomen, e) Kontraste flächenhafter amorpher Objekte, f) Kontraste von Kristallgittern; Intensität der KristallgitterInterferenzen; Kontraste nicht aufgelöster Kristalle. 2. Phasenkontrast: a) Intensität der Amplituden-Gitterinterferenzen, b) Kontraste aufgelöster Kristallgitter, c) Phasen-schiebung; Folie; elektrostatische Felder. . 3. Filterung: a) Kontrast flächenhafter Objekte, b) Kontrast von Einzelatomen, c) Kontraste aufgelöster Kristallgitter. 4. Linsenfehler. 5. Dunkelfeld: a) nicht freitragende Objekte, b) freitragende Objekte, c) Dunkelfeld-Hellfeld. 6. Zusammenfassung. Durch diese Untersuchung wird gezeigt, daß schon mittels Streuabsorption Einzelatome höherer Ordnungszahl sichtbar gemacht werden können, wenn es gelingt, das Auflösungsvermögen entsprechend zu steigern. Eine zusätzliche Ausfilterung der unelastisch gestreuten Elektronen bringt besonders bei leichten Atomen eine sehr erwünschte Kontraststeigerung. Eine entscheidende Verbesserung bedeutet aber die Einführung des Pliasenkontrastverfahrens in die Elektronen-Optik, so daß nicht nur die leichten Atome der organischen Chemie sichtbar gemacht werden können, sondern auch die Atome im Kristallgitter oder in anderen Atomverbindungen. Auch eine Weiterentwicklung der Technik der Dunkelfeldmethode erscheint sehr lohnend, da sie eben-falls die leichten Atome der organischen Chemie im festen Körper zu kennzeichnen gestattet. Die Frage, die den Anlaß zu dieser Untersuchung gab, kann daher dahin beantwortet werden, daß es durchaus sinnvoll ist, das Auflösungsvermögen des Elektronenmikroskops bis zur Auflösung der Atomabstände zu steigern.