Magnetic Force Microscopy Image Measured on MoS2 Thin Film Sputtered on CaF2 (111) Substrate
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CaF2 (111) 基板上溅射的 MoS2 薄膜的磁力显微镜图像测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Tsutsui and H. Wakabayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Muneta;Danial B. Z.;N. Hayakawa;K. Kakushima;K. Tsutsui and H. Wakabayashi
