K.Kuroda et al.: "Application of focused ion beam milling to cross-sectional TEM specimen preparation of indnstrial matenials." Thin Solid Films. 319. 92-96 (1998)
K.Kuroda et al.: "Application of focused ion beam milling to cross-sectional TEM specimen preparation of indnstrial matenials." Thin Solid Films. 319. 92-96 (1998)
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K.Kuroda 等人：“聚焦离子束铣削在工业材料横截面 TEM 样品制备中的应用。”
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