The effect of bulk traps in proton irradiated EEV CCDs
The effect of bulk traps in proton irradiated EEV CCDs
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质子辐照 EEV CCD 中体陷阱的影响
DOI：
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发表时间：
1993
期刊：
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通讯作者：
A. Holland
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Holland
