放射光マイクロX線回折を用いたマイクロファセット上InGaN/GaN量子井戸構造の評価
放射光マイクロX線回折を用いたマイクロファセット上InGaN/GaN量子井戸構造の評価
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使用同步加速器微 X 射线衍射评估微面上的 InGaN/GaN 量子阱结构
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂田修身
中科院分区：
文献类型：
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作者：
榊篤史;川村朋晃;大野裕孝;上田雅也;船戸充;川上養一;木村滋;坂田修身
