Reliability evaluation of Nb 10 kA/cm2 fabrication process for large-scale SFQ circuits
Reliability evaluation of Nb 10 kA/cm2 fabrication process for large-scale SFQ circuits
复制标题
大规模SFQ电路Nb 10 kA/cm2制造工艺的可靠性评估
DOI：
10.1016/j.physc.2005.03.058
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发表时间：
2005
影响因子：
1.7
通讯作者：
M. Hidaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Nagasawa;K. Hinode;T. Satoh;H. Akaike;Y. Kitagawa;M. Hidaka
