10-nm-Scale Four-Point Probe Resistance Measurement Using Carbon Nanotube Tips in Four-Tip Scanning Tunneling Microscope
10-nm-Scale Four-Point Probe Resistance Measurement Using Carbon Nanotube Tips in Four-Tip Scanning Tunneling Microscope
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在四尖端扫描隧道显微镜中使用碳纳米管尖端进行 10 纳米级四点探针电阻测量
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Yoshimoto;Y.Murata;K.Kubo;K.Tomita;K.Motoyoshi;T.Kimura;H.Okino;R.Hobara;I.Matsuda;S.Honda;M.Katayama;S.Hasegawa
