チャージポンピング法によるMOS界面評価
チャージポンピング法によるMOS界面評価
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使用电荷泵方法评估 MOS 接口
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
土屋敏章
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Yata;M. Fujita;and T. Nagatsuma;土屋敏章
