Characterization of Thin Film Ferrolelectrics for FRAMs
Characterization of Thin Film Ferrolelectrics for FRAMs
复制标题
FRAM 薄膜铁电体的表征
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Honda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
藤沢浩訓、清水勝;他;K.Honda
