Electrical and thermal stress analysis of In203-Ga203-ZnO thin-film transistors
Electrical and thermal stress analysis of In203-Ga203-ZnO thin-film transistors
复制标题
In203-Ga2O3-ZnO薄膜晶体管的电应力和热应力分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Mami Fujii
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
濱本雄治;加藤岳生;Mami Fujii;Mami Fujii
