Single-Sweep vs. Banded Characterization of a D-band Ultra-Low-Loss SiC Substrate Integrated Waveguide
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复制标题
D 波段超低损耗 SiC 衬底集成波导的单次扫描与带状表征
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Hwang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Reyes;M. Asadi;D. Jena;H. Xing;P. Fay;J. Hwang
