理論計算と中性子・放射光X線を用いた(Sr,Na)2MgSi2O7-d系イオン伝導体の平均・局所構造解析
理論計算と中性子・放射光X線を用いた(Sr,Na)2MgSi2O7-d系イオン伝導体の平均・局所構造解析
复制标题
利用理论计算以及中子和同步加速器辐射 X 射线对 (Sr,Na)2MgSi2O7-d 基离子导体进行平均和局部结构分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
宇野 弘樹，北村 尚斗，石田 直哉，井手本 康
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xiangfen Jiang;Xuebin Wang;Dmitri Golberg;Yoshio Bando;宇野 弘樹，北村 尚斗，石田 直哉，井手本 康
