M.Sugihara,H.Date,and H.Yasuura: "Analysis and Minimization of Test Time in a Combined BIST and External Test Approach"Proc. of Design Automation and Test in Europe (DATE2000). 134-140 (2000)
M.Sugihara,H.Date,and H.Yasuura: "Analysis and Minimization of Test Time in a Combined BIST and External Test Approach"Proc. of Design Automation and Test in Europe (DATE2000). 134-140 (2000)
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M.Sugihara、H.Date 和 H.Yasuura：“BIST 和外部测试组合方法中测试时间的分析和最小化”Proc。
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