単一InAs量子リングにおける正孔面内g因子の測定 (B-4)
単一InAs量子リングにおける正孔面内g因子の測定 (B-4)
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单 InAs 量子环中空穴面内 g 因子的测量 (B-4)
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
足立 智
中科院分区：
文献类型：
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作者：
冨永 隆宏，鍜治 怜奈，呉 祐年，鄭 舜仁;足立 智
