N.Tanaka et al.: "High-spatial vesolution analysis of interface by um-sized electron probe" Control of semiconductor interfaces. 10. 315-320 (1994)
N.Tanaka et al.: "High-spatial vesolution analysis of interface by um-sized electron probe" Control of semiconductor interfaces. 10. 315-320 (1994)
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N.Tanaka 等人：“通过微米级电子探针对界面进行高空间分辨率分析”半导体界面的控制。
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