Kaoru Ohya: "Monte Carlo study of secondary electron emission from SiO2 induced by focused ion beams"Applied Surface Science. (In press). (2004)
Kaoru Ohya: "Monte Carlo study of secondary electron emission from SiO2 induced by focused ion beams"Applied Surface Science. (In press). (2004)
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Kaoru Ohya：“聚焦离子束诱导的 SiO2 二次电子发射的蒙特卡罗研究”应用表面科学。
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