Fei, Y.: "A Critical Evaluation of Pressure Scales at High Temperatures by In-Situ X-ray Diffraction Measurements."Phys.Earth Planet.Int.. (印刷中). (2003)
Fei, Y.: "A Critical Evaluation of Pressure Scales at High Temperatures by In-Situ X-ray Diffraction Measurements."Phys.Earth Planet.Int.. (印刷中). (2003)
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Fei, Y.：“通过原位 X 射线衍射测量对高温压力尺度进行批判性评估”。Phys.Earth Planet.Int.（出版中）。
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