T.Kondo: "Reflected Second-Harmonic Ellipsometry-A New Tool for Determining the Nonlinear Optical Coefficients of Thin Films" Tech.Dig,Europ.Quantum Electron.Conf.262-263 (1994)
T.Kondo: "Reflected Second-Harmonic Ellipsometry-A New Tool for Determining the Nonlinear Optical Coefficients of Thin Films" Tech.Dig,Europ.Quantum Electron.Conf.262-263 (1994)
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T.Kondo：“反射二次谐波椭偏仪 - 确定薄膜非线性光学系数的新工具”Tech.Dig，Europ.Quantum Electron.Conf.262-263 (1994)
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