BANDGAP AND OPTICAL-TRANSITIONS IN THIN-FILMS FROM REFLECTANCE MEASUREMENTS
BANDGAP AND OPTICAL-TRANSITIONS IN THIN-FILMS FROM REFLECTANCE MEASUREMENTS
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DOI：
10.1016/0042-207x(92)90163-q
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发表时间：
1992-04-01
期刊：
影响因子：
4
通讯作者：
PAL, AK
中科院分区：
文献类型：
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作者：
BHATTACHARYYA, D;CHAUDHURI, S;PAL, AK
提出了一种新的公式和方法，用于评估的带隙，光学跃迁和光学常数的反射率数据沉积到非吸收基板上的薄膜。
A new formulation and method are presented for evaluating bandgap, optical transitions and optical constants from the reflectance data for films deposited onto a non-absorbing substrate.