Relaxation of compositionally graded Si1 − xGex buffers: a TEM study
Relaxation of compositionally graded Si1 − xGex buffers: a TEM study
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成分分级 Si1 − xGex 缓冲液的弛豫：TEM 研究
DOI：
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发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. Schäffler
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Hohnisch;Howard J. Herzog;F. Schäffler
