蓄積電荷測定法によるAu/C8-BTBT界面の正孔注入障壁測定
蓄積電荷測定法によるAu/C8-BTBT界面の正孔注入障壁測定
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使用累积电荷测量方法测量 Au/C8-BTBT 界面的空穴注入势垒
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山口晃司，田島裕之，角屋智史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takayoshi Tonami;Ryohei Kishi;Yasutaka Kitagawa;山口晃司，田島裕之，角屋智史
