T.Arai et al.: "AFM tip sharpening and evaluation by electric field confinement using a metal grid approached to the tip"J.Vac.Sci.Technol.. B 18. 648-652 (2000)
T.Arai et al.: "AFM tip sharpening and evaluation by electric field confinement using a metal grid approached to the tip"J.Vac.Sci.Technol.. B 18. 648-652 (2000)
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T.Arai 等人：“使用接近尖端的金属网格通过电场限制进行 AFM 尖端锐化和评估”J.Vac.Sci.Technol.. B 18. 648-652 (2000)
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