不揮発性液晶ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性
不揮発性液晶ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性
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使用非易失性液晶全息图存储器的动态光学可重构门阵列的容错
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
荻原
中科院分区：
文献类型：
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作者：
間渕;宮城;渡邊;荻原
